CNBC:芯片短缺促使美國(guó)考慮進(jìn)行供應(yīng)鏈壓力測(cè)試,據(jù)CNBC援引兩位美國(guó)高級(jí)政府官員和兩位知情人士的話(huà)報(bào)道稱(chēng),最近出現(xiàn)的半導(dǎo)體短缺問(wèn)題正促使白宮考慮進(jìn)行供應(yīng)鏈“壓力測(cè)試”。據(jù)報(bào)道,拜登政府正在考慮是否要求供應(yīng)鏈基于假設(shè)情形進(jìn)行壓力測(cè)試,并建議建立某些關(guān)鍵物品的庫(kù)存。政府機(jī)構(gòu)每周會(huì)開(kāi)會(huì)一次討論這個(gè)問(wèn)題,尚未發(fā)布最終建議。
備注:數(shù)據(jù)僅供參考,不作為投資依據(jù)。
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